?今日，第十三屆半導體設備與核心部件及材料展（CSEAC 2025）在無錫太湖國際博覽中心盛大開啟。展會為期三天，為半導體產業搭建起前沿技術與創新成果的展示交流平臺。惠然微電子作為半導體量檢測設備領域的領航者，攜諸多核心技術成果亮相展會，首日便備受業界關注。

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惠然微電子總部扎根無錫，致力于為半導體產業提供高分辨率、高能效的電子束量檢測設備及科學儀器，憑借自主研發的核心電子光學技術，在半導體量檢測設備領域持續深耕，已然成為推動行業國產化進程的中堅力量。

產品閃耀，引領行業新潮流

惠然微電子在此次展會上帶來了多款極具競爭力的產品。其自主研發的電子束量檢測設備“賦”系列CD - SEM備受矚目，12 inch型優化電子光學系統實現高精準量測，適配新工藝；6/8 inch型在第三代半導體量測優勢盡顯。“比”系列EBI電子束缺陷檢測設備吸睛，eIB 3001側重高分辨率，eIB 3101聚焦高速檢測，精準識缺陷，“興”系列缺陷復檢設備（DR-SEM）應用電子束掃描顯微成像技術，實現多種缺陷復檢功能，是芯片制造過程中良率提升的關鍵設備。

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此外，場發射掃描電鏡系列具備高分辨率成像能力，可清晰呈現微觀結構，適配失效診斷、材料分析等多元場景，為科研生產提供堅實技術支撐。

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技術交流，碰撞智慧新火花

展會首日，惠然微電子的核心技術團隊便與業界同仁展開了深入而廣泛的技術交流，同時深度參與多場圓桌對話與技術論壇。這支由國際頂尖專家組成的團隊，擁有二十年以上設計、制造、工藝、調試、應用等全鏈條經驗，以及從0到1的產品開發經驗和豐富的商業化能力。

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他們與產業同仁圍繞半導體量檢測技術演進、電子束設備應用拓展等議題展開了熱烈討論，共同探索行業發展的新方向。在交流過程中，雙方分享了最新的技術成果和實踐經驗，為解決行業面臨的技術難題提供了新的思路和方法。

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抽獎互動，增添展會新樂趣

為了讓參觀者更好地了解惠然微電子的產品和技術，公司精心策劃了一系列趣味橫生的互動體驗活動。其中，激動人心的抽獎活動吸引了眾多參觀者的積極參與，惠然微電子精心準備的獎品備受好評。

同時，技術問答挑戰環節也讓參觀者在輕松愉快的氛圍中深入領略了產品與技術的魅力。現場氣氛熱烈，許多參與者表示通過這些活動對產品與技術有了更深入的了解，增添了許多參加展會的樂趣。

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攜手共進，共創產業新輝煌

此次展會將從9月4日持續到9月6日，今天是展會的開幕日，也是惠然微電子在半導體領域新征程的起點。

公司將繼續加大在電子光學技術（EOS）領域的研發投資，加速電子束量檢測設備與掃描電鏡的技術革新，緊密跟隨國家半導體產業的發展步伐，強化產業鏈上下游的緊密協作，提升中國半導體行業在全球市場的核心競爭力，向著更高層次的自主化和國產化目標奮勇前行。

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隨著CSEAC 2025的持續推進，惠然微電子將以此次展會為契機，繼續秉持創新驅動、技術引領的發展理念，與業界同仁攜手并進，共同應對半導體行業的挑戰與機遇，為中國乃至全球半導體產業的繁榮發展貢獻智慧與力量，共同書寫更加輝煌的未來篇章。

（來源：惠然微電子）